一、軌跡檢波的概念
在頻譜分析模式下，當掃描類型為掃頻時，信號/頻譜分析儀通過數字方式控制本振以極小的頻率步進掃描，在整個掃描期間，數字中頻電路中的ADC捕獲的采樣點數通常遠遠大于信號/頻譜分析儀用于顯示的掃描點數。當掃描類型為FFT時，信號/頻譜分析儀將本振調諧為固定頻率點，在整個測量期間，數字中頻電路中的ADC捕獲的采樣點數執行FFT計算后，也可能大于信號/頻譜分析儀用于顯示的掃描點數。
例如，假定ADC采樣速率為100MSa/s，掃描點數為1000，掃描時間為100ms，頻寬為1GHz。當執行一次掃描，信號/頻譜分析儀捕獲了100×105個采樣點數，需要將其轉變成1001個軌跡數據。相當于每100000個采樣數據對應一點軌跡數據，每一個軌跡數據代表頻率范圍為1MHz內出現的信號。如果增加掃描點數，每一個軌跡數據對應的頻寬也越窄，測量結果越穩定，頻率讀出準確度越高。
由以上分析可以看出，軌跡顯示需要將較多的采樣數據點數處理成較少的掃描軌跡點數，這就是軌跡檢波需要做的事情。
二、常見軌跡檢波方式
軌跡檢波方式有多種類型，常見的軌跡檢波方式有如下7種：
1. 正常檢波
從分配到每個軌跡點的采樣數據中取最大值和最小值，并同時顯示出來。
2. 正峰值檢波
從分配到每個軌跡點的采樣數據中取一個最大值顯示出來。
3. 負峰值檢波
從分配到每個軌跡點的采樣數據中取一個最小值顯示出來。
4. 取樣值檢波
從分配到每個軌跡點的采樣數據中取最后一個值顯示出來。
5. 功率平均檢波
也稱有效值（RMS）檢波，計算分配到每個軌跡點的所有采樣數據的均方值；SP900系列信號/頻譜分析儀對射頻輸入信號包絡檢波后得到線性電壓值，對這些電壓值平方后求和，再除以每個軌跡點對應的采樣數據點數，最后進行開方運算。顯示刻度類型為對數時，對這些均方根值進行20倍的以10為底的對數變換后，得到軌跡數據。顯示刻度類型為線性時，這些均方根值就是軌跡數據。
6. 電壓平均檢波
