集成電路測試研討會已于11月2日至3日在深圳隆重舉行，應邀參會的有國內集成電路領域處于技術研發前沿的各大高校、科研機構、軍工研究所。行業內各專業大咖齊聚一堂，共同商討集成電路的發展方向。
羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S”公司）在集成電路測試領域有身后的積累，有幸被邀請參加此次展會。R&S在此次展會上展示了如下測試解決方案。
解決方案 先睹為快
R&S® ZNA 與 Cascade/MPI 探針臺的聯合測試系統
為了滿足射頻前端DUT再晶圓環境下的測量要求，R&S推出ZNA高端矢量網絡分析儀，以及頻率在67 GHz以上的擴頻模塊。ZNA通過手動、半自動和全自動探針臺系統解決晶圓接觸問題，系統包括熱控制、高頻探針、探針定位器和校準工具等。
對整套測試系統進行完全校準后，用戶可以使用ZNA的所有測試功能。通用S參數測試可以表征濾波器和有源器件的特性；失真、增益和交調測試可以驗證功率放大器的特性。該套聯合測試系統還可對混頻器工作帶寬內的變頻相位進行測量。經過完全校準的測試系統允許用戶直接從VNA獲得所有測試結果，無需進行后處理，因為校準數據已經直接應用于VNA之中。
ZNA配置：
ZNA系列矢量網絡分析儀一業界高質量的矢量網絡分析儀，精確測量有源和無源器件，且可內置4個相參源，是唯一可測量變頻器多級變頻的矢量網絡分析儀。
-10 MHz至26.5/43.5/50/67 GHz(可擴頻至1.1THz)
-動態范圍:170dB
-可集成4路相位相參的信號源
Cascade/MPI探針臺：
根據實際需求和預算選擇品牌、型號、標準軟件、晶圓探頭、阻抗標準基片校準標準件等。
-可選自動或半自動或手動型號
-可選高低溫配置
R&S先進收發機芯片技術
R&S® SMA100B射頻和微波信號發生器是所有需要及其純凈模擬信號場合的首選。在維持最高輸出功率的同時提供最純凈的輸出信號，頻率范圍可從8kHz擴展到67GHz，具有優異的單邊帶噪聲，幾乎沒有寬帶噪聲，最大輸出功率超過30dBm寬頻率范圍。
R&S® FSW具有優良的相位噪 聲、高無雜散動態范圍、快速測量和操作方便等特點，提供8.3 GHz內部分析帶寬和800 MHz實時分析帶寬，可同時測量多種標準。
結合SMW和FSW，可以靈活滿足接收，發射以及整體的測試要求，操作簡單便捷，是無線收發系統測試的得力助手。
R&S® FSWP 相位噪聲分析儀和VCO測試儀
產品亮點：
?高端信號與頻譜分析儀和相位噪聲測試儀集于一體
?互相關技術和近載波性能相結合，即使是脈沖信號也能確保靈敏的相位噪聲測量
?頻率范圍介于1MHz至50GHz，使用外部混頻器時高達500 GHz
?用于測量殘余相位噪聲(包括脈沖信號噪聲)的內部源
?同時測量相位噪聲和幅度噪聲
關鍵性能：
?頻率范圍從1 MHz到8 GHz/26.5 GHz/50 GHz，使用外接諧波混頻器可以達到 500 GHz
?使用互相關技術和噪聲極低的基準源，相位噪聲測量的靈敏度高
-172 dBc/Hz ，1 GHz載頻頻率，10 kHz頻偏
-158 dBc/Hz ，10 GHz載頻頻率，10 kHz頻偏
?同時測量幅度噪聲和相位噪聲，一鍵式測量方法完成脈沖信號的相位噪聲測試
?內置低噪聲信號源用于附加相噪和脈沖附加相噪測試
?單表實現高性能相噪分析和高端信號與頻譜分析
?可以在8 GHz的范圍內分析跳頻信號的瞬態特性
R&S® RTP高性能示波器
